科研动态
空天院光学元件激光损伤阈值测试仪研制完成
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光学元件激光损伤测试仪主要用于光学材料、器件等激光损伤阈值测试,可以实现表面损伤、体损伤和功能损伤测试,依据GB/T 16601.4-2017《激光器和激光相关设备激光损伤阈值测试方法第4部分:检查、探测和测量》;依据GB/T 16601.2-2017《激光器和激光相关设备激光损伤阈值测试方法第2部分:阈值确定》;可实现532nm和1064nm两种波长单独辐照和同时辐照样品损伤测量功能。 产品主要技术指标 ·适用激光波长:532nm、1064nm;重复频率:1Hz~100Hz;脉宽10ns±2ns ·光学元件损伤阈值判定范围:0.1J/ cm2~300J/ cm2(1064nm、532nm); ·显微成像分辨率:7μm。 ·激光能量密度测量不确定度:8%; ·功率密度测量不确定度:10%。 光学元件激光损伤测试仪主要包括: 测试光路、真空室(功能:样品室损伤判定系统,包括透反射率损伤判定、等离子体损伤判定和在线显微成像损伤成像系统)、上位机通讯及控制主机。采用叠层设计,纳秒激光器置于测试光路下面,测试光路和真空系统置于上面,集成在同一机柜内,形成一体测试机。
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