光学元件激光损伤测试仪主要用于光学材料、器件等激光损伤阈值测试，可以实现表面损伤、体损伤和功能损伤测试，依据GB/T 16601.4-2017《激光器和激光相关设备激光损伤阈值测试方法第4部分：检查、探测和测量》；依据GB/T 16601.2-2017《激光器和激光相关设备激光损伤阈值测试方法第2部分：阈值确定》；可实现532nm和1064nm两种波长单独辐照和同时辐照样品损伤测量功能。

产品主要技术指标

·适用激光波长：532nm、1064nm；重复频率：1Hz～100Hz；脉宽10ns±2ns

·光学元件损伤阈值判定范围：0.1J/ cm²～300J/ cm²（1064nm、532nm）；

·显微成像分辨率：7μm。

·激光能量密度测量不确定度：8%；

·功率密度测量不确定度：10%。

光学元件激光损伤测试仪主要包括：

测试光路、真空室（功能：样品室损伤判定系统，包括透反射率损伤判定、等离子体损伤判定和在线显微成像损伤成像系统）、上位机通讯及控制主机。采用叠层设计，纳秒激光器置于测试光路下面，测试光路和真空系统置于上面，集成在同一机柜内，形成一体测试机。